Система контроля первого изделия SMT Bluiris FAI-600IV

SMT Bluiris

Описание Технические характеристики

Система контроля первого изделия SMT BLUIRIS FAI-600IV – система контроля первого изделия, которая предоставляет возможность проведения автоматизированных проверок на производстве, а также генерации отчетов. Проводимые тесты включают проверку использования правильного компонента, его месторасположение и точность установки.

Может устранить до 99,99% ошибок, вызванных ручными методами проверки.

Требования к окружающей среде: 10~35℃, влажность 20% ~80%
Источник питания: 220 В, 50 Гц
Потребляемая мощность: 600 Вт
Измерительная система:
– Номер модели: BLUIRIS 6230H
– Частота тестирования: 20 Гц ~ 300 кГц
– Точность тестирования: 0,05%
Диапазон отображаемых измерений:
– L: 0.01 нГн ~ 9,9999 кГн
– C: 0.0001 пФ ~ 9,9999 Ф
– R: 0.1 мОм ~ 99,999 МОм
Интерфейс: RS-232C
Система фотографического сканирования с высоким разрешением
Технические характеристики тестовых печатных плат:
– Максимальный размер: 410×318 мм
– Верхний предел высоты: до 26 мм
– Программное обеспечение: FAI 6.2 или выше
Мэйнфрейм компьютер (минимальная конфигурация):
– Процессор: I7
– Объем памяти: 16 Г
– Жесткий диск: 128 Г SSD + 1 ТБ
– Монитор 21.5 дюйма
Офисное программное обеспечение:
– ОС: Windows 10
– Тестовое устройство x 1
Размеры: 1305x800x1200мм
Масса: около 170

Каталог

Система контроля первого изделия SMT Bluiris FAI-600IV

Похожие товары