Автоматическая система контроля первого изделия SMT Bluiris FAI-i650

SMT Bluiris

Описание Технические характеристики

Система автоматического контроля первого изделия SMT Bluiris FAI-i650 является важнейшей мерой тестирования первого серийного образца. Система может выявлять любые проблемы на раннем этапе и вносить необходимые исправления и корректировки. Благодаря этому снижаются производственные риски, повышается качество выпускаемой продукции и сокращается количество бракованных изделий.

Функционал: сравнение с эталоном, контроль угла установки компонентов, контроль отсутствия компонента, некорректные компоненты, шелкография
Размер платы: 650×560 мм
Зазор сверху/снизу: 25мм/35 мм
Виды тест-компонентов: SMD конденсатор/резистор
Размер компонентов: 01005/0201/0402/0603/0805/1206/1210/1812/2010/2512
Частота: 20 Гц – 300 кГц
Минимальное измерение сопротивления/ёмкости: R 0.1 Ом; C 0.1 пФ
Точность тестирования: 0.05%
Диапазон отображаемых измерений:
— Индуктивность: 0.01 нГ – 9.9999 кГн
— Электрическая емкость: 0.0001 пФ – 9.9999 пФ
— Сопротивление: 0.1 мОм – 99.999 МОм
Угол проверки: 0°, 45°, 90°, 180°, 270° (и больше)
Система распознавания: камера 1200 W
Скорость тестирования: 1 шт./сек.
ОС Windows
Интерфейс: RS-232C
Электропитание: 220В±10%, 50Гц, 2700 Вт
Габаритные размеры: 1580×1230×1750 мм
Масса оборудования: около 1150 кг

Внимание! Цвет, характеристики и комплектация товара могут отличаться от представленных на сайте. Более подробную консультацию по представленной модели и персональному подбору можно получить по телефону: +7 800 550-16-49, почта: sales@smt-max.ru

Каталог

Автоматическая система контроля первого изделия SMT Bluiris FAI-i650

Похожие