Автоматическая система контроля первого изделия SMT Bluiris FAI-i850

SMT Bluiris

Описание Технические характеристики

Система автоматического контроля первого изделия SMT Bluiris FAI-i850 является важнейшей мерой тестирования первого серийного образца. Система может выявлять любые проблемы на раннем этапе и вносить необходимые исправления и корректировки. Благодаря этому снижаются производственные риски, повышается качество выпускаемой продукции и сокращается количество бракованных изделий.

Функционал: сравнение с эталоном, контроль угла установки компонентов, контроль отсутствия компонента, некорректные компоненты, шелкография
Размер платы: 800×600 мм
Зазор сверху/снизу: 25мм/35 мм
Тестируемые компоненты: SMD конденсатор/резистор
Размеры тест-компонентов: 01005/0201/0402/0603/0805/1206/1210/1812/2010/2512
Частота тестирования: 20 Гц – 300 кГц
Минимальное измерение сопротивления/ёмкости: R 0.1 Ом; C 0.1 пФ
Точность тестирования: 0.05%
Диапазон отображаемых измерений:
— Электрическая ёмкость: 0.5 пФ – 19.9999 мФ
— Сопротивление: 0 Ом – 19.999 МОм
Угол проверки: 0°, 45°, 90°, 180°, 270°
Система распознавания: камера 500W
Скорость тестирования: 1 шт./сек
Интерфейс: RS-232C
ОС: Windows
Электропитание: 220В, 50 Гц, 2700 Вт
Габаритные размеры: 1600×1400×1730 мм
Масса оборудования: около 1700 кг

Внимание! Цвет, характеристики и комплектация товара могут отличаться от представленных на сайте. Более подробную консультацию по представленной модели и персональному подбору можно получить по телефону: +7 800 550-16-49, почта: sales@smt-max.ru

Каталог

Автоматическая система контроля первого изделия SMT Bluiris FAI-i850

Похожие