Ваш запрос успешно отправлен
Автоматические системы контроля над нанесением паяльной пасты помогают максимально снизить количество дефектов изделия перед выполнением операций монтажа и пайки. Это ведет к значительному сокращению затрат времени и средств на выполнение ремонта уже собранных печатных узлов.
Инспекция качества нанесения паяльной пасты может быть выполнена как для каждой контактной площадки печатной платы, так и для выбранных критичных участков (для увеличения скорости инспекции). Нанесение пасты на площадку контролируется посредством проведения следующих анализов: измерения смещений по осям (X/Y/R), замер толщины отпечатка (Z), проверка объема столбика пасты, измерение площади заполнения контакта пастой и проверка формы отпечатка.
Системы SPI, помимо инструментов для полного анализа качества нанесения паяльной пасты, оборудованы функциями внесения корректировок смещений при нанесении материала на контактные площадки. Коррекция смещений выполняется на базе статистических оценок качества нанесения пасты на предыдущие печатные платы. Посредством данных функций обеспечивается максимально возможная эффективность производственного процесса по выпуску качественных электронных изделий.
Выявление дефектов паяльной пасты на раннем этапе позволяет немедленно принять меры по их устранению до того, как на плату будут установлены компоненты поверхностного монтажа.
Причиной более 50% дефектов паяных соединений является неправильное нанесение паяльной пасты. Если паста нанесена на плату неправильно, на последующем этапе сборки и пайки могут возникнуть дефекты, такие как вздыбливание компонента либо ненадежное паяное соединение или его отсутствие. Таким образом, критически важно организовать контроль на этом этапе производства печатных плат.
Преимущество
Типы устройств SPI
В настоящее время компании, производящие PCBA, используют два типа оборудования для тестирования SPI-2D и 3D — каждый из которых имеет свои преимущества и характеристики. При выборе оборудования необходимо учитывать требования к сложности конструкции.